NI推出6.6GHz PXI Express射频矢量信号分析仪和矢量信号发生器 

　　新型的射频模块化仪器充分利用了高性能多核处理器的优势，是高速射频和无线自动化测试应用的理想选择。在多核CPU上运行使用LabVIEW 8.6编写的并行化测量算法时，工程师们能够利用新型的射频矢量信号分析仪和射频矢量信号发生器，以比传统仪器更快的速度进行多种常用的射频测量。例如，射频模块化仪器能以快20多倍的速度进行单独的WCDMA测量。由于它可以在短短的8ms内，实现邻信道泄漏比 (ACLR) 等参数的测量，工程师们能够以5倍以上的速度改进，对WCDMA设备进行完整的定性分析。 

　　此外，工程师们还可以利用新型仪器更快地进行通用的测量。例如，使用NI PXIe-8106控制器以30kHz的分辨率带宽进行典型的50MHz频谱扫频，只需要4ms，而使用传统仪器进行相同的测量则需要100ms或者更多的时间。随着新型多核处理器的发布，基于PXI的射频测量所需时间会不断下降，而无需对射频仪器或NI LabVIEW编程进行改动，进而保证了测量性能的最大化、提高了系统寿命并降低了成本投资。 

　　除了对性能的改进外，新型射频模块化仪器还基于完全软件定义的构架，提供了业界领先的测量灵活性。工程师们可以通过使用具体标准的LabVIEW工具包或编写专用的调制算法对软件进行简单的重新配置，就能实现开发和测试各种无线协议。NI公司及系统联盟商提供了用于许多现有和新兴的通信技术的LabVIEW工具包，包括WiMAX、 GPS、WCDMA、GSM、EDGE、宽带视频广播、802.11、蓝牙、OFDM和MIMO。同时，工程师们可以将PXI射频仪器与高达1500种的模块进行集成，其中包括高速数字化仪、信号发生器和精密直流仪器等，来满足完整的测试需求。 

　　新型的6.6GHz模块化仪器使用了最新的商业化技术，包括16位数模转换器和模数转换器来生成和数字化信号，用于实现优异的动态性能。NI PXIe-5673射频矢量信号发生器使用了直接射频上变频技术，提供了高达100MHz的射频带宽。使用额外的“缺陷模式”，工程师们可以使用板载的现场可编程门阵列 (FPGA) 芯片，快速手动调整增益不平衡、IQ偏置和正交偏斜。利用专为特定频率优化的基带缺陷模式，工程师们可以获得超过-85dBc的载波和镜频抑制。NI PXIe-5663射频矢量信号分析仪提供了通带平坦和低相位噪声特性，所以可以用于精确的测量调制信号。例如，在WCDMA中，2GHz时2600多个码元的典型EVM性能是0.8个百分点。另外，对于WiMAX而言，3.8GHz时的典型EVM性能是-52dB。 

　　“现在，工程师们可以从基于LabVIEW和PXI平台的真正软件定义的射频仪器体验到性能的优越性，” NI公司射频与通信高级经理Joseph E. Kovacs先生表示，“借助于PXI Express的带宽和多核处理器的并行处理能力，NI软件定义的射频仪器将随着技术进步不断提升速度。我们的客户将不断受益于与传统仪器相比高达10倍的速度提升以及更多核的处理器进入市场所带来的性能改进。” 

　　NI PXI-1075 18插槽机箱提供了8个混合插槽供工程师们使用，可用于PXI Express设备或PXI混合插槽兼容的模块来最大限度地重用现有的PXI模块。为高性能系统设计的NI PXIe-1075，提供了0到50摄氏度的工作温度范围，而且还提供了集成的系统监视功能，包括电源管理及整个系统的风扇状态和温度监测等。